Mathis, F., Calvo Del Castillo, H., Chene, G., Dupuis, T., Deprez, N., & Strivay, D. (2008). Analyses en faisceau extrait pour le Patrimoine : Nouveau dispositif IBIL et PIXE combiné sur le cyclotron de l'IPNAS, application à l'analyse des gemmes [Poster presentation]. Ion Beam Analysis France, France. |