Paper published in a book (Scientific congresses and symposiums)
Interférométrie de speckle en infrarouge thermique
Vandenrijt, Jean-François; Georges, Marc
2007In Résumés du Huitième colloque francophone Méthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie
 

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Keywords :
interférométrie de speckle; infrarouge thermique
Abstract :
[fr] L’utilisation de l'interférométrie de speckle (ESPI) sur des objets opaques diffusants à une longueur d’onde de 10 µm en utilisant une caméra thermographique commerciale est présentée pour la première fois à notre connaissance. L’idée d’utiliser une longueur d’onde plus grande que les longueurs d’onde visibles habituelles est de rendre les mesures de déplacements par des techniques holographiques moins sensibles aux perturbations extérieures. Dans cet article, nous discutons certains aspect particuliers dûs à l’accroissement de la longueur d’onde dans le domaine thermique de 10 µm. Nous montrons ensuite les résultats de mesures de rotations dans le plan d’une plaque métallique. Nous avons utilisé la technique du décalage de phase pour obtenir des mesures quantitatives qui sont corrélées par des mesures menées en parallèle avec un théodolite.
Disciplines :
Physics
Author, co-author :
Vandenrijt, Jean-François  ;  Université de Liège - ULiège > CSL (Centre Spatial de Liège)
Georges, Marc ;  Université de Liège - ULiège > CSL (Centre Spatial de Liège)
Language :
French
Title :
Interférométrie de speckle en infrarouge thermique
Publication date :
November 2007
Event name :
Huitième colloque francophone Méthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie
Event organizer :
Club Contrôles et Mesures Optiques pour l'Industrie (CMOI) de la Société Française d'Optique (SFO)
Event place :
Arcachon, France
Event date :
19-23 Novembre 2007
Audience :
International
Main work title :
Résumés du Huitième colloque francophone Méthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie
Publisher :
Société Française d'Optique
Pages :
141-141
Available on ORBi :
since 17 December 2010

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