Unpublished conference/Abstract (Scientific congresses and symposiums)
Interférométrie holographique photoréfractive : nouveaux développements et applications récentes
Thizy, Cédric; Georges, Marc; Hustinx, Guy-Michel et al.
2008Neuvième colloque francophone Méthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie
 

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Keywords :
photorefractive crystal; holographic interferometry; non destructive testing; cristaux photoréfractifs; interférométrie holographique; contrôle non destructif
Abstract :
[fr] Les cristaux photoréfractifs permettent l'enregistrement holographique dynamique in-situ et une réutilisabilité infinie. Aussi ils possèdent des propriétés spécifiques que d'autres matériaux holographiques n'ont pas et qui peuvent être utilisées de manière avantageuse en interférométrie holographique. Depuis 15 ans, le CSL développe des techniques d'interférométrie holographique et des instruments basés sur des cristaux de Bi12SiO20 (BSO). Le comportement dynamique de ces derniers permet une grande souplesse d'utilisation de l'interférométrie holographique, à l'instar des techniques basées sur l'enregistrement numérique, tout en fournissant des interférogrammes de meilleure résolution que celles-ci (pas de bruit de speckle, pas de filtrage nécessaire). Par le passé, nous avons déjà présenté une large gamme d'applications en métrologie, contrôle non destructif et mesures vibratoires. Ici nous présentons des applications industrielles récentes obtenue avec une caméra holographique photoréfractive commercialisée. Cette dernière a été utilisée avec succès dans des applications très demandeuses, notamment en terme de résolution.
Disciplines :
Physics
Author, co-author :
Thizy, Cédric ;  Université de Liège - ULiège > CSL (Centre Spatial de Liège)
Georges, Marc ;  Université de Liège - ULiège > CSL (Centre Spatial de Liège)
Hustinx, Guy-Michel
Lemaire, Philippe
Language :
French
Title :
Interférométrie holographique photoréfractive : nouveaux développements et applications récentes
Publication date :
November 2008
Event name :
Neuvième colloque francophone Méthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie
Event organizer :
Club Contrôles et Mesures Optiques pour l'Industrie (CMOI) de la Société Française d'Optique (SFO)
Event place :
Nantes, France
Event date :
17-21 Novembre 2009
Audience :
International
Available on ORBi :
since 30 November 2010

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