Reference : Analysis of thin layers for photovoltaic application: Comparison between RBS and ellipso...

	Document type :	Scientific congresses and symposiums : Poster
	Discipline(s) :	Physical, chemical, mathematical & earth Sciences : Multidisciplinary, general & others
	To cite this reference:	http://hdl.handle.net/2268/76890

Title :	Analysis of thin layers for photovoltaic application: Comparison between RBS and ellipsometry on the determination of roughness and porosity
Language :	English
Author, co-author :	Mathis, François [Université de Liège - ULg > > Centre européen en archéométrie - Physique nucléaire, atomique et spectroscopie >]
	Dewalque, Jennifer [Université de Liège - ULg > Département de chimie (sciences) > LCIS - GreenMAT >]
	Dubreuil, Olivier [Université de Liège - ULg > Département de chimie (sciences) > LCIS - GreenMAT >]
	Toussaint, Catherine [Université de Liège - ULg > Département de chimie (sciences) > LCIS - GreenMAT >]
	Delhalle, René [Université de Liège - ULg > HEC-Ecole de gestion de l'ULg : UER > UER Opérations >]
	Spronck, Gilles [Université de Liège - ULg > Département de chimie (sciences) > LCIS - GreenMAT >]
	Colson, Pierre [Université de Liège - ULg > Département de chimie (sciences) > LCIS - GreenMAT >]
	Cloots, Rudi [Université de Liège - ULg > Département de chimie (sciences) > LCIS - GreenMAT - Doyen de la Faculté des Sciences >]
	Strivay, David [Université de Liège - ULg > Département de physique > Physique nucléaire, atomique et spectroscopie - Centre européen en archéométrie >]
Publication date :	2010
On invitation :	No
Audience :	International
Event name :	10th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology
Event date :	13-17 septembre 2010
Event place (city) :	Athènes
Event country :	Grèce
Permalink :	http://hdl.handle.net/2268/76890

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