Reference : Analysis of thin layers for photovoltaic application: Comparison between RBS and elli...
Scientific congresses and symposiums : Poster
Physical, chemical, mathematical & earth Sciences : Multidisciplinary, general & others
http://hdl.handle.net/2268/76890
Analysis of thin layers for photovoltaic application: Comparison between RBS and ellipsometry on the determination of roughness and porosity
English
Mathis, François mailto [Université de Liège - ULg > > Centre européen en archéométrie - Physique nucléaire, atomique et spectroscopie >]
Dewalque, Jennifer mailto [Université de Liège - ULg > Département de chimie (sciences) > LCIS - GreenMAT >]
Dubreuil, Olivier mailto [Université de Liège - ULg > Département de chimie (sciences) > LCIS - GreenMAT >]
Toussaint, Catherine mailto [Université de Liège - ULg > Département de chimie (sciences) > LCIS - GreenMAT >]
Delhalle, René mailto [Université de Liège - ULg > HEC-Ecole de gestion de l'ULg : UER > UER Opérations >]
Spronck, Gilles mailto [Université de Liège - ULg > Département de chimie (sciences) > LCIS - GreenMAT >]
Colson, Pierre mailto [Université de Liège - ULg > Département de chimie (sciences) > LCIS - GreenMAT >]
Cloots, Rudi mailto [Université de Liège - ULg > Département de chimie (sciences) > LCIS - GreenMAT - Doyen de la Faculté des Sciences >]
Strivay, David mailto [Université de Liège - ULg > Département de physique > Physique nucléaire, atomique et spectroscopie - Centre européen en archéométrie >]
2010
No
No
International
10th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology
13-17 septembre 2010
Athènes
Grèce
http://hdl.handle.net/2268/76890

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