Request a copy

Full Text

• Simon, U.; Schon, G.; Schmid, G. Angew. Chem., Int. Ed. 1993, 32 (2) 250-254
• Schmid, G. Chem. Soc. Rev. 2008, 37 (9) 1909-1930
• Yam, V. W. W.; Cheng, E. C. C. Chem. Soc. Rev. 2008, 37 (9) 1806-1813
• Murray, R. W. Chem. Rev. 2008, 108 (7) 2688-2720
• Jin, R. Nanoscale 2010, published on line, DOI: 10.1039/b9nr00160c.
• Schmid, G.; Klein, N.; Korste, L.; Kreibig, U.; Schonauer, D. Polyhedron 1988, 7 (8) 605-608
• Schmid, G.; Pugin, R.; Meyer-Zaika, W.; Simon, U. Eur. J. Inorg. Chem. 1999, 11) 2051-2055
• Tsunoyama, H.; Negishi, Y.; Tsukuda, T. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128 (18) 6036-6037
• Hanaoka, T.; Kormann, H. P.; Kroll, M.; Sawitowski, T.; Schmid, G. Eur. J. Inorg. Chem. 1998, 6) 807-812
• Crookes-Goodson, W. J.; Slocik, J. M.; Naik, R. R. Chem. Soc. Rev. 2008, 37 (11) 2403-2412
• Grzelczak, M.; Perez-Juste, J.; Mulvaney, P.; Liz-Marzan, L. M. Chem. Soc. Rev. 2008, 37 (9) 1783-1791
• Jiang, D. E.; Nobusada, K.; Luo, W. D.; Whetten, R. L. ACS Nano 2009, 3 (8) 2351-2357
• Wang, X. M.; Kharitonov, A. B.; Katz, E.; Willner, I. Chem. Commun. 2003, 13) 1542-1543
• Baron, R.; Onopriyenko, A.; Katz, E.; Lioubashevski, O.; Willner, I.; Sheng, W.; Tian, H. Chem. Commun. 2006, 20) 2147-2149
• Katz, M. J.; Sakai, K.; Leznoff, D. B. Chem. Soc. Rev. 2008, 37 (9) 1884-1895
• Boyen, H. G.; Kastle, G.; Weigl, F.; Ziemann, P.; Schmid, G.; Garnier, M. G.; Oelhafen, P. Phys. Rev. Lett. 2001, 87 (27, pt.1) 276401/1-4
• Boyen, H. G.; Kastle, G.; Weigl, F.; Koslowski, B.; Dietrich, C.; Ziemann, P.; Spatz, J. P.; Riethmuller, S.; Hartmann, C.; Moller, M.; Schmid, G.; Garnier, M. G.; Oelhafen, P. Science 2002, 297 (5586) 1533-1536
• Schmidbaur, H.; Schier, A. Chem. Soc. Rev. 2008, 37 (9) 1931-1951
• Jiang, D. E.; Whetten, R. L.; Luo, W. D.; Dai, S. J. Phys. Chem. C 2009, 113 (40) 17291-17295
• Jadzinsky, P. D.; Calero, G.; Ackerson, C. J.; Bushnell, D. A.; Kornberg, R. D. Science 2007, 318, 430-433
• Li, Y.; Galli, G.; Gygi, F. ACS Nano 2008, 2 (9) 1896-1902
• Heaven, M. W.; Dass, A.; White, P. S.; Holt, K. M.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130 (12) 3754-3755
• Zhu, M.; Aikens, C. M.; Hollander, F. J.; Schatz, G. C.; Jin, R. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130 (18) 5883-5885
• Akola, J.; Walter, M.; Whetten, R. L.; Hakkinen, H.; Gronbeck, H. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130 (12) 3756-3757
• Wang, W.; Lee, D.; Murray, R. W. J. Phys. Chem. B 2006, 110 (21) 10258-10265
• Qian, H.; Zhu, Y.; Jin, R. ACS Nano 2009, 3 (11) 3795-3803
• Hakkinen, H.; Walter, M.; Gronbeck, H. J. Phys. Chem. B 2006, 110 (20) 9927-9931
• Hakkinen, H.; Barnett, R. N.; Landman, U. Phys. Rev. Lett. 1999, 82 (16) 3264-3267
• Walter, M.; Akola, J.; Lopez-Acevedo, O.; Jadzinsky, P. D.; Calero, G.; Ackerson, C. J.; Whetten, R. L.; Gronbeck, H.; Hakkinen, H. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2008, 105 (27) 9157-9162
• Qian, H.; Jin, R. Nano Lett. 2009, 9 (12) 4083-4087
• Lopez-Acevedo, O.; Akola, J.; Whetten, R. L.; Gronbeck, H.; Hakkinen, H. J. Phys. Chem. C 2009, 113 (13) 5035-5038
• Pyykko, P. Angew. Chem., Int. Ed. 2004, 43 (34) 4412-4456
• Hakkinen, H.; Yoon, B.; Landman, U.; Li, X.; Zhai, H. J.; Wang, L. S. J. Phys. Chem. A 2003, 107 (32) 6168-6175
• Koskinen, P.; Hakkinen, H.; Seifert, G.; Sanna, S.; Frauenheim, T.; Moseler, M. New J. Phys. 2006, 8 (1
• Xiao, L.; Tollberg, B.; Hu, X. K.; Wang, L. C. J. Chem. Phys. 2006, 124
• Pauly, F.; Viljas, J. K.; Huniar, U.; Hafner, M.; Wohlthat, S.; Burkle, M.; Cuevas, J. C.; Schon, G. New J. Phys. 2008, 10
• Jensen, L.; Aikens, C. M.; Schatz, G. C. Chem. Soc. Rev. 2008, 37 (5) 1061-1073
• Pérez, L. A.; López-Lozano, X.; Garzón, I. L. Eur. Phys. J. D 2009, 52, 123-126
• Jiang, D. E.; Whetten, R. L. Phys. Rev. B 2009, 80 (11) 5
• Hakkinen, H. Chem. Soc. Rev. 2008, 37 (9) 1847-1859
• Pyykko, P. Chem. Soc. Rev. 2008, 37 (9) 1967-1997
• Hakkinen, H.; Moseler, M.; Landman, U. Phys. Rev. Lett. 2002, 89 (3
• Hakkinen, H.; Moseler, M.; Kostko, O.; Morgner, N.; Hoffmann, M. A.; von Issendorff, B. Phys. Rev. Lett. 2004, 93
• Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; J. A. Montgomery, J.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, Revision C.02; Gaussian, Inc.: Wallingford CT, 2003.
• Case, D. A.; Darden, T. A.; T.E. Cheatham, I.; Simmerling, C. L.; Wang, J.; Duke, R. E.; Luo, R.; Crowley, M.; Walker, R. C.; Zhang, W.; Merz, K. M.; Wang, B.; Hayik, S.; Roitberg, A.; Seabra, G.; Kolossváry, I.; Wong, K. F.; Paesani, F.; Vanicek, J.; Wu, X.; Brozell, S. R.; Steinbrecher, T.; Gohlke, H.; Yang, L.; Tan, C.; Mongan, J.; Hornak, V.; Cui, G.; Mathews, D. H.; Seetin, M. G.; Sagui, C.; Babin, V.; Kollman, P. A., AMBER 10.: University of California: San Francisco, 2008.
• Kresse, G.; Furthmuller, J. Phys. Rev. B 1996, 54, 11169
• Kresse, G.; Hafner, J. Phys. Rev. B 1993, 47, 558
• Blöchl, P. E. Phys. Rev. B 1994, 50, 17953
• Periyasamy, G.; Remacle, F. Nano Lett. 2009, 9 (8) 3007-3011
• Miyauchi, H.; Taketomi, K.; Egami, A.; Hosoi, S.; Fukutani, H. Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 1994, 34, 19-21
• Vanderputten, D.; Zanoni, R. Phys. Lett. A 1995, 208 (4-6) 345-350
• Becker, C.; Fries, T.; Wandelt, K.; Kreibig, U.; Schmid, G. J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9 (2) 810-813
• Houbertz, R.; Feigenspan, T.; Mielke, F.; Memmert, U.; Hartmann, U.; Simon, U.; Schon, G.; Schmid, G. Europhys. Lett. 1994, 28 (9) 641-646
• Vandeleemput, L. E. C.; Gerritsen, J. W.; Rongen, P. H. H.; Smokers, R. T. M.; Wierenga, H. A.; Vankempen, H.; Schmid, G. J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9 (2) 814-819
• Schmid, G.; Simon, U. Chem. Commun. 2005, 6) 697-710
• Vogel, W.; Rosner, B.; Tesche, B. J. Phys. Chem. 1993, 97 (45) 11611-11616
• Benfield, R. E.; Filipponi, A.; Bowron, D. T.; Newport, R. J.; Gurman, S. J. J. Phys.: Condens. Matter 1994, 6 (41) 8429-8448
• Fairbanks, M. C.; Benfield, R. E.; Newport, R. J.; Schmid, G. Solid State Commun. 1990, 73 (6) 431-436
• Brom, H. B.; Baak, J.; Dejongh, I. J.; Mulder, F. M.; Thiel, R. C.; Schmid, G. Z. Phys. D: At., Mol Clusters 1993, 26, S27-S29
• Zhang, H.; Mautes, D.; Hartmann, U. New J. Phys. 2003, 5
• Sawada, S.; Sugano, S. Z. Phys. D: At., Mol Clusters 1992, 24 (4) 377-384
• Hakkinen, H.; Moseler, M. Comput. Mater. Sci. 2006, 35 (3) 332-336
• Cramer, J. C., Theories and Models., 2nd ed.; John Wiley & sons Ltd.: Chichester, England: p 205.
• Kryachko, E. S.; Remacle, F. Chem. Phys. Lett. 2005, 404 (1-3) 142-149
• Kryachko, E. S.; Remacle, F. Nano Lett. 2005, 5 (4) 735-739
• Kryachko, E. S.; Remacle, F. J. Chem. Phys. 2007, 127
• Abe, M.; Kondo, T.; Uosaki, K.; Sasaki, Y. J. Electroanal. Chem. 1999, 473 (1-2) 93-98
• Zhang, J. D.; Chi, Q. J.; Nielsen, J. U.; Friis, E. P.; Andersen, J. E. T.; Ulstrup, J. Langmuir 2000, 16 (18) 7229-7237
• Gittins, D. I.; Bethell, D.; Nichols, R. J.; Schiffrin, D. J. J. Mater. Chem. 2000, 10 (1) 79-83
• Horswell, S. L.; O'Neil, I. A.; Schiffrin, D. J. J. Phys. Chem. B 2003, 107 (20) 4844-4854
• Chen, S.; Deng, F. J. Langmuir 2002, 18 (23) 8942-8948
• Michi, T.; Abe, M.; Matsuno, J.; Uosaki, K.; Sasaki, Y. Bull. Chem. Soc. Jpn. 2007, 80, 1368-1376
• Sasaki, Y.; Abe, M. Chem. Rec. 2004, 4 (5) 279-290
• Tomiyasu, Y.; Abe, M.; Morihara, Y.; Ohgi, H.; Otake, T.; Hisaeda, Y. Chem. Lett. 2009, 38 (5) 492-493
• Albrecht, T.; Mertens, S. F. L.; Ulstrup, J. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129 (29) 9162-9167
• Zhang, J. D.; Kuznetsov, A. M.; Medvedev, I. G.; Chi, Q. J.; Albrecht, T.; Jensen, P. S.; Ulstrup, J. Chem. Rev. 2008, 108 (7) 2737-2791