Reference : Méthode de Perturbation pour la Modélisation par Éléments Finis des Systèmes Électrostat...
Dissertations and theses : Doctoral thesis
Engineering, computing & technology : Electrical & electronics engineering
http://hdl.handle.net/2268/109665
Méthode de Perturbation pour la Modélisation par Éléments Finis des Systèmes Électrostatiques en Mouvement - Application aux MEMS Électrostatiques
French
Boutaayamou, Mohamed mailto [Université de Liège - ULg > Dép. d'électric., électron. et informat. (Inst.Montefiore) > Exploitation des signaux et images >]
5-Mar-2009
Université de Liège, ​Liège, ​​Belgique
Docteur en Sciences de l'Ingénieur de l'Université de Liège
95
Dular, Patrick mailto
Golinval, Jean-Claude mailto
Duysinx, Pierre mailto
Rochus, Véronique
Vazquez Sabariego, Ruth mailto
Krähenbühl, Laurent mailto
Piriou, Francis mailto
Geuzaine, Christophe mailto
[fr] méthode de perturbation ; méthode des éléments finis ; MEMS ; conducteurs en mouvement ; forces électrostatiques ; distorsions du champ ; décomposition de domaine
[en] perturbation method ; finite element method ; MEMS ; moving conductors ; electrostatic forces ; field distortions ; domain decomposition
[fr] La modélisation par éléments finis des conducteurs en mouvement nécessite généralement des calculs successifs et le remalliage de certaines régions. Une modélisation 3D de géométries complexes par les techniques classiques nécessite dès lors de gros efforts en terme de temps de calcul.
Dans cette thèse, une méthode originale basée sur une approche par sous-problèmes, appelée méthode de perturbation, a été développée. Utilisant la méthode des éléments finis, cette technique consiste à subdiviser un problème entier en sous-problèmes. La complexité du problème initial est par conséquent diminuée en ne se concentrant que sur les zones les plus pertinentes. Appliquée aux systèmes en mouvement, la méthode de perturbation permet d'exploiter les résolutions antérieures au lieu d'effectuer un nouveau calcul pour chaque position.
L'analyse par la méthode de perturbation des microsystèmes électromécaniques (MEMS) électrostatiques comprenant des parties en déplacement ou en déformation est en outre considérée dans ce travail. Il est notamment question de démontrer l'implication naturelle de cette approche pour des simulations plus efficaces et plus précises des MEMS électrostatiques.
Applied and Computational Electromagnetics (ACE)-Département d'Electricité, Electronique et Informatique (Institut Montefiore)
Communauté française de Belgique - CfB
projet ARC (Convention 03/08-298, “Modélisation, Simulation Multiphysique et Optimisation de Problèmes Couplés - Application aux Micro-Systèmes Electromécaniques (MEMS)”)
Researchers ; Professionals ; Students
http://hdl.handle.net/2268/109665

File(s) associated to this reference

Fulltext file(s):

FileCommentaryVersionSizeAccess
Restricted access
these_M.Boutaayamou_2009.pdfAuthor postprint5.24 MBRequest copy

Bookmark and Share SFX Query

All documents in ORBi are protected by a user license.